H.フィッシャー社製膜厚計
ドイツのフィッシャー・インストルメンツ社では、世界のトップメーカーとして国内外問わず自動車業界から鍍金業界まで大きな支持を集めています。
優れた測定精度、測定時のレスポンスの速さ、故障率の低さからフィッシャーの膜厚計を指名買いするお客様が多くいらっしゃいます。
またフィッシャーでは日本国内で修理対応が可能な体制が整っており、問題が発生した際にも迅速な修理対応が可能です。
すべての測定器の開発・製造はドイツの本社施設で行われており、DIN ISO 9001:2000の認定を受けています。
下地と被膜に関する測定可能な原理
下地と被膜の組み合わせによって測定可能な膜厚計の種類が異なります。
測定可能な膜厚計については下記表をご参照下さい。
H.フィッシャー社製膜厚計ラインナップ
小型膜厚計
| 機種名 |  デルタスコープFMP10 |
 イソスコープFMP10 |
 デュアルスコープFMP20 |
 デルタスコープFMP30 |
 イソスコープFMP30 |
 デュアルスコープFMP40 |
| 価格 | ⇒値引きします |
⇒値引きします |
⇒値引きします |
⇒値引きします |
⇒値引きします |
⇒値引きします |
| 測定方式 | 電磁式 | 渦電流式 | 電磁式/渦電流式 | 電磁式 | 渦電流式 | 電磁式/渦電流式 |
| アプリケーション | 1件 | 1件 | 1件 | 100件 | 100件 | 100件 |
| 統計・評価 | 全体の統計表示 | 全体の統計表示 | 全体の統計表示 | 全体またはブロック毎の統計表示 規格値の上下限設定 グラフィック評価 |
全体またはブロック毎の統計表示 規格値の上下限設定 グラフィック評価 |
全体またはブロック毎の統計表示 規格値の上下限設定 グラフィック評価 |
※FMPシリーズは、測定の際別途プローブが必要となります。詳細についてはお問い合わせ下さい
ポケットタイプ膜厚計
| 機種 |  デュ アルスコープMP0R |
 デュアルスコープMP0R-FP(USB) |
| 価格 | ⇒値引きします |
⇒値引きします |
| 測定方式 | 電磁式/渦電流式 | 電磁式/渦電流式 |
| プローブ | 本体に内蔵(ケーブルなし、交換不可) | 一体型ケーブル付きプローブ(交換不可) |
| 統計・評価 | 上下リミット値設定 統計機能有り |
上下リミット値設定 統計機能有り |
デスクトップ型膜厚計
| 機種 |  MMS PC2 |
| 価格 | ⇒値引きします |
| 測定方式 | 電磁式/渦電流式/渦電流位相式/磁気式/電気抵抗式/ベータ線広報散乱式 |
| 特徴 | ・測定データをアーカイブしたり処理したりする多機能測定システムとして昨日する堅牢な多目的デスクトップ装置 ・モジュラー構造とプラグイン式プローブにより、用途に柔軟に対応 ・単一の装置にさまざまな測定方式が組み込まれており、広く調整することが可能 ・包括的な分析および統計機能 ・大きな一体型タッチスクリーンまたはキーボードやマウスを使った、直感的な操作が可能 ・さまざまなインターフェースを通じて自動精算プロセスに等が追う可能 |
| 主な用途 | ・鋼鉄上の亜鉛鍍金被膜や塗装、アルミニウムの陽極酸化皮膜(PERMASCOPE) ・ナノコーティング (防指紋効果)、太陽光セルコーティング (薄膜層、CdTe/ガラス)、プラグ接触部の金皮膜、はんだパッドの鉛ろう、微量分析、感光性皮膜、オイルおよびワックス層 (BETASCOPE®) ・回路基板の表面やスルーホール上の銅皮膜測定 (SIGMASCOPE®) ・回路基板の裏面の銅皮膜の影響を受けずに積層や多層上の銅だけの厚さ測定 (SR-SCOPE®) ・回路基板製造における銅の上のはんだレジストの厚さ測定 (PERMASCOPE®) ・自動車分野でのピストン表面のグラファイト皮膜やブレーキディスク上の耐腐食性皮膜 (PERMASCOPE®) ・自動車分野でのピストン表面の鉄性皮膜 (NICKELSCOPE®) ・オーステナイト鋼や二相鋼のフェライト含有量測定 (PERMASCOPE®) ・銅、アルミニウム、チタニウムなどの非磁性金属の導電性測定 (SIGMASCOPE®) |
| 機種 |  COULOSCOPE CMS2 |
| 価格 | ⇒値引きします |
| 測定方式 | 電解式 |
| 特徴 | ・非常に正確な脱メッキ技術 (クーロメトリ) による高精度多層測定 ・ディスプレイやGUIなどにより簡単な操作が可能 ・高い適合性: 金属および非金属基材上の測定、また多層皮膜にも適合 ・幅広いアクセサリーにより個別の要件に合わせて調整可能 |
| 主な用途 | ・金属および非金属基材上のあらゆる種類の金属皮膜 ・単一層および複数層の膜厚測定 ・特にSTEP試験により多層ニッケルの測定に適合 ・適合膜厚: 0.05 µm～40 µm |
| 機種 |  XANシリーズ |
| 価格 | ⇒値引きします |
| 測定方式 | 蛍光X線 |
| 特徴 | ・操作が簡単。金および貴金属でもっとも重要な機能を備えることによる最適な価格と性能。 ・下から上へ測定することにより、サンプルを簡単に位置決め可能 ・柔軟性: 各分野の典型的な要件に対して多様にカスタマイズ ・非破壊方式の膜厚測定および素材分析 |
| 用途 | 膜厚測定 ・数nmレンジの薄さの貴金属皮膜 ・ファッションジュエリー: ニッケル材料の代替品として使用される現代的な多層構造の分析素材分析 ・金製のジュエリー、時計、コインの組成および純度を測定 ・貴金属合金の組成の分析 ・ラボ、試験機関、大学での一般的な素材分析 |
| 機種 |  XULシリーズ |
| 価格 | ⇒値引きします |
| 測定方式 | 蛍光X線 |
| 特徴 | ・シンプルで高速なポジショニング – 広い測定チャンバーと下から上への測定方向により、プリント回路基板やフレキシブル回路基板など大きなサンプルでも対応可能 ・極めて幅広いハードウェアオプション。このため、さまざまな測定作業に適合 ・オプションでマイクロフォーカスX線管を搭載可能。これにより、直径わずか100 µmの小さな構造や測定表面に対応可能 |
| 用途 | ・クロム皮膜。装飾クロム仕上げの施されたプラスチック製品など ・鋼鉄の上の亜鉛などの耐腐食性皮膜 ・回路基板およびフレキシブル回路基板上の皮膜 ・プラグや電気接点の接触表面 ・電気メッキ浴分析 |
| 機種 |  XDLシリーズ |
| 価格 | ⇒値引きします |
| 測定方式 | 蛍光X線 |
| 特徴 | ・異なるハードウェアコンポーネントによりさまざまな測定作業に対応する蛍光X線式装置 ・測定距離を変えられるため (最大80 mm)、回路基板や ・プログラム可能なXYテーブルおよびZ軸により自動連続測定可能 (オプション) ・極めて薄い層の測定に最適。高いエネルギー分解能を備えるシリコンドリフト検出器 (XDAL) を使用 |
| 主な用途 | 膜厚測定 ・大きなボードやフレキシブル回路基板 上の皮膜測定 ・回路基板の薄い導電層/分離層 ・3次元的なコンポーネントの皮膜 ・クロム皮膜。装飾クロム仕上げが施されたプラスチック製品など 素材分析 |
| 機種 |  XDVシリーズ |
| 価格 | ⇒値引きします |
| 測定方式 | 蛍光X線 |
| 特徴 | ・高性能なX線管と優れた高感度なシリコンドリフト検出器 (SDD) のおかげで、反復可能な精度によりもっとも薄い皮膜を測定可能 ・長時間連続測定に対応しており、非常に長期間の安定性を持つ極めて堅牢な構造 ・高度なポリキャピラリーX線光学レンズにより、X線を極めて小さな測定スポットに集光 ・プログラム可能なXYテーブルおよびZ軸により自動連続測定可能 (オプション) ・ビデオイメージングとレーザーポインタのサポートにより高速かつシンプルなポジショニング |
| 主な用途 | 膜厚測定 ・小さな時計部品上のNiP層のような耐摩耗性皮膜 ・機械的な時計部品の非常に薄い貴金属皮膜 ・ナノメートルレンジでのベースメタライズ層 (UBM、Under Bump Metallization) の試験 ・C4はんだバンプやより小さなはんだバンプの測定 素材分析 |
| 機種 |  XUV |
| 価格 | ⇒値引きします |
| 測定方式 | 蛍光X線 |
| 特徴 | ・低い検出限度、反復可能な高い精度、広くアップグレードできる測定などにより、研究開発に特に適合します ・軽元素でも高い精度で測定できる真空チャンバーおよび高性能のシリコンドリフト検出器搭載 ・プログラム可能なX、Y、Z軸により自動連続試験可能 ・交換可能なコリメーターやフィルターにより、さまざまな材料や測定条件の需要に対して調節可能 |
| 主な用途 | 膜厚測定 ・ナトリウムからの軽元素によるnmレベルの層 ・アルミニウムおよびシリコン層 素材分析 |
※デスクトップ型は、オプション品や据付運搬費が別途必要になるケースがあります。詳細な価格についてはお問い合わせ下さい。
価格、納期について
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御見積の作成からデモ、その他導入に関するお手伝い等喜んで対応いたします